平板导体深层缺陷定量检测仿真研究

平板导体深层缺陷定量检测仿真研究

传统涡流传感器由于涡流的集肤效应以及检测中自身激励的干扰,难以测量导体深层缺陷信息,为了提高涡流传感器的检测能力,设计了矩形线圈模型,并改变了线圈模型的方位,可以有效的克服涡流的集肤效应,获取深层缺陷

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